TSI美國冷凝粒子計數(shù)器 3750-CEN10 3750-CEN10

TSI美國冷凝粒子計數(shù)器 3750-CEN10 3750-CEN10

產(chǎn)品詳情

CPC 3750-CEN10 建立在多代 TSI® 全流式 CPC 譜系的基礎上，幾十年來一直是納米顆粒計數(shù)的金標準。新的更新擴展了濃度范圍，通過直觀的直接接觸用戶界面、新軟件和可存儲數(shù)月數(shù)據(jù)的**內部數(shù)據(jù)存儲，讓每個人都能更輕松地使用。

CPC 3750-CEN10 基于數(shù)十年的粒子計數(shù)技術經(jīng)驗，專為 24/7/365 全天候運行而設計。當與用于采樣以及溫度和濕度測量的附件相輔相成時，*終的系統(tǒng)就是您環(huán)境空氣監(jiān)測站的基石。對于高濃度超細顆粒 （UFP） 的熱點，可以使用稀釋器。

為了實現(xiàn)環(huán)境空氣中 UFP 測量的一致性，EN 16976：2024* 概述了 CPC 和隨附的采樣系統(tǒng)的**標準。3750-CEN10 CPC 符合 EN 16976：2024 中規(guī)定的所有標準。

此外，3750-CEN10 完全集成到掃描遷移率粒徑譜儀? （SMPS?） 系列中。SMPS? 3938W50-CEN10 使環(huán)境空氣監(jiān)測站能夠根據(jù) CEN/TS 17434：2020 標準測量超細顆粒物的粒徑分布。

應用

• 顆粒數(shù)濃度的空氣質量監(jiān)測 （EN 16976：2024*）
• 顆粒粒度分布的大氣監(jiān)測（CEN/TS 17434，如果是 3938W50-CEN10 的一部分）
• 健康影響研究
• 基礎氣溶膠研究

特性和優(yōu)勢

• 符合 EN 16976：2024*
• 低粒徑檢測效率：
  • D50 = 10 nm ± 1.0 nm
  • D90 < 20 納米
• 訂單包括由世界氣溶膠物理校準中心 （WCCAP）、萊布尼茨對流層研究所 （TROPOS） 對新 CPC 的驗證和校準
• 無需稀釋即可將濃度范圍擴展到 100,000 個顆粒/cm3（有關稀釋，請參見“附件”）
• 與 Scanning Mobility Particle Sizer? （SMPS?） 3938 兼容
• 可靠的內部存儲器 – 可存儲數(shù)周的數(shù)據(jù)以進行持續(xù)監(jiān)測
• 將數(shù)據(jù)直接集成到網(wǎng)絡中，或從軟件導出（可自動導出）
• 除水系統(tǒng) - 兼容高濕度環(huán)境
• 通過脈沖高度監(jiān)控進行診斷
• 數(shù)據(jù)速率高達 50 Hz - 捕獲高動態(tài)過程
• 對氣溶膠濃度的快速變化快速響應 （T10-90 < 1 秒）